基質輔助雷射脫附游離質譜儀(MALDI-TOF/MS)一次質譜分析&二次質譜分析收費標準
| 項目 | 收費標準(元/件或小時) | 備註 |
|---|---|---|
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基質輔助雷射脫附游離質譜儀(MALDI-TOF/MS)一次質譜分析&二次質譜分析 |
300/件 |
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黃怡菁
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國立中山大學 研究發展處
Office of Research and Development, National Sun Yat-sen University
高雄市鼓山區蓮海路70號行政大樓六樓
No.70Lienhai Rd.,Kaohsiung 80424,Taiwan,R.O.C.
分機2603 傳真 07-5252601
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